Karlsruhe, Juni 2010 - Auf der PATINFO 2010, dem 32. Kolloquium der TU Ilmenau über Patentinformation und gewerblichen Rechtsschutz am 10. und 11. Juni in Ilmenau, sprechen Dr. Christiane Emmerich, Produktmanagerin Patentinformation von FIZ Karlsruhe, und Dipl.-Ing. Elke Thomä, Schulungsleiterin am PATON Landespatentzentrum Thüringen, über Patentfamilien bei STN International, dem im Bereich der Chemie- und Patentinformation weltweit führenden Online-Service. Eine Patentfamilie umfasst alle weltweit von verschiedenen Patentbehörden publizierten Schutzrechtsschriften, die sich auf die gleiche Erfindung beziehen und die gleiche Priorität beanspruchen.

Emmerich erklärt dazu: „Patentfamilien-Information ist für unternehmenskritische Fragen und Entscheidungen in forschenden Firmen und Organisationen von großer Bedeutung. Patentfamilien geben wichtige Hinweise, in welchen Ländern Wettbewerber aktiv sind. Oder umgekehrt: welche Märkte gutes Erschließungspotenzial haben, weil dort noch keine direkt vergleichbaren patentgeschützten Produkte angeboten werden.“ Bei der alltäglichen Beobachtung des internationalen Patentgeschehens und der Auswertung diesbezüglicher Recherchen, so Emmerich weiter, erleichtern die zusammengefassten Schutzrechtsinformationen die Arbeit von Patentrechercheuren und eröffnen ihnen neue Wege zur gesuchten Information. „Zu nationalen asiatischen Patentanmeldungen in der Landessprache gibt es oft in anderen Ländern in englischer Sprache angemeldete Familienmitglieder, so dass die Sprachbarriere der Erstanmeldung keine Hürde mehr darstellt“, erläutert die Patentinformationsspezialistin.

Bei STN werden Familiendaten hoher Qualität und Vollständigkeit in drei speziellen Datenbanken mit internationaler Abdeckung angeboten: in den INPADOC-Datenbanken, im Derwent World Patents Index von Thomson Reuters und in CAplus von Chemical Abstracts Service. Die INPADOC-Daten vom Europäischen Patentamt werden von FIZ Karlsruhe einer zusätzlichen Qualitätskontrolle unterzogen und aufgewertet. Der Vortrag findet am Freitag, 11. Juni, im Nachmittagsblock ab 14.35 Uhr statt.



Vor der Konferenz werden am Donnerstagvormittag von 9.00 bis 11.00 Uhr Workshops durchgeführt, die für Konferenzteilnehmer kostenlos sind. FIZ Karlsruhe stellt hier „Überwachungsrecherchen in Patentdatenbanken auf STN“ vor. Solche Recherchen sind in besonderer Weise geeignet, aktuelle Informationen über bestimmte Technologiegebiete, Erfinder oder Firmen zu gewinnen und neue Forschungstrends zu erkennen. Der Workshop gibt einen Überblick über Funktionalitäten von STN, mit denen Überwachungsrecherchen effektiv eingerichtet und durchgeführt werden können.

Weitere Informationen zu den Datenbanken gibt es auf der Website von STN unter Products and Services / STN Contents: http://www.stn-international.de/stn_content.html

Seit über drei Jahrzehnten ist die PATINFO 2010 eine bedeutende Bühne für den Erfahrungsaustausch zwischen Patentanwälten, Patentfachleuten, Technikern, Wissenschaftlern, Datenbankanbietern, Patentdienstleistern und Informationsvermittlern sowie Vertreterinnen und Vertretern von Ämtern und Einrichtungen des gewerblichen Rechtsschutzes. Im Rahmen der Konferenz thematisieren und diskutieren sie aus ihren unterschiedlichen Blickwinkeln aktuelle Fragen zu nationalen, europäischen und internationalen Entwicklungen im Patent- und Gebrauchsmusterbereich. Ausgerichtet wird die Veranstaltung vom PATON Landespatentzentrum an der TU Ilmenau unter der Leitung von Prof. Dr.-Ing. habil. Reinhard Schramm, der nach seiner Emeritierung in diesem Jahr zum letzten Mal die Verantwortung für die PATINFO trägt. Das vollständige Programm ist auf der PATON-Website, Stichwort „Aktuelles“ als pdf-Faltblatt zum Download bereitgestellt: http://www.paton.tu-ilmenau.de/pdf/PATINFO2010Programm.pdf

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